出错组件显示：显示电路板的图表并自动显示出错组件的位置。

超强调试方式：主要针对作进一步微调试程序，优化测试结果，可编改驱动电流，延迟及测试频率。

波型分析仪：直接观察测试波形，以便更改测试的延迟时间，无需盲目多次尝试。

电解电容反插检测：透过测量外壳的电压、或漏电电流可判断电容是否反插。

二极管测试：可区别功率、讯号和齐纳二极管。

晶体三点测试：可测HFE值。

场效应管（ FET ）测式：能测是否存在和短路。

光藕测试：能测是否开路和短路。

跳线测试：能测是否开路或短路。

额外选件配置GPIB接口有、透过GBIP接口和多不胜数的业蚧仪器 ，使系统的可扩展性及灵活性大提高，以应付不同需求功能测试。